Microscope à force atomique (AFM)

La microscopie à force atomique est utilisée pour caractériser des objets déposés sur diverses surfaces. Notre équipement permet de travailler sous diverses conditions et en particulier en milieu biologique avec le couplage d’un microscope à fluorescence.

Caractéristiques de l'équipement

JPK Nanowizard III, associé à un microscope de fluorescence inversé Axio Observer de ZEISS
photo du microscope à force atomique © David Villa / Science Image CNRS